CIOE2026｜奔赴光电产业年度盛会，亚斯光学邀您共探精密光学元件的量产落地之道

九月的深圳，光电行业一年一度的产业盛会即将拉开大幕。**第27届中国国际光电博览会（CIOE2026）**，将于9月9‑11日在深圳国际会展中心（宝安）正式举办。

2026-07-01 14:32:18四川亚斯光学有限公司12316

前言：CIOE，读懂中国光电产业发展的窗口

九月的深圳，光电行业一年一度的产业盛会即将拉开大幕。第27届中国国际光电博览会（CIOE2026），将于9月9‑11日在深圳国际会展中心（宝安）正式举办。

历经二十余载发展，CIOE早已不只是一场简单的产品展销会，它是国内光电产业发展的重要风向标，也是全球光电领域极具影响力的综合性行业平台。本届展会汇聚来自全球30多个国家和地区超4000家参展企业，覆盖激光技术、红外成像、精密光学、传感检测、光通信、光电仪器等完整上下游赛道。无数行业头部大厂、科研机构、专精制造企业齐聚于此，新品发布、技术研讨、供应链对接同步开展。

对于整机仪器企业的老板、技术研发工程师、采购负责人而言，参加CIOE的意义，远不止走马观花看新品。在展台上，我们能看到各类高端整机仪器惊艳亮相，但所有整机性能的背后，根基都落在上游一颗颗不起眼的光学元件之上。展会既是各大厂商展示整机实力的舞台，同时也是对上游元器件制造能力的一场集体检阅。很多行业同仁逛展，核心目的就是寻找靠谱的上游合作伙伴，评估制造企业的工艺实力、批量生产能力与技术服务水平。

在本次盛会上，四川亚斯光学将与众多行业大厂同台参展，亮相8D51‑52展位。作为专注红外光学元件、激光镜片、高精度大口径光学元件的专业制造商，我们希望借CIOE这一行业窗口，和广大仪器设备厂商做一次深度务实的对话，共同探讨精密光学元件从样品研发走向稳定量产落地过程中的各类现实难题。

一、光鲜整机背后，光学元件量产的现实痛点

逛CIOE展会，总能看到大量性能参数亮眼的整机仪器：红外检测设备、高能激光加工设备、科研分析仪器、工业测量仪器等新品轮番登场。设备样机在实验室环境下表现优异，各项指标全部达标。但很多技术人员和采购都遇到过这样的困境：样机所使用的光学元件样品测试完美，一旦进入批量生产，各种问题便接踵而至，直接拖累整机项目进度。

光学元件，看似只是一块镜片、一片窗口、一枚棱镜，但它的性能不是只看单颗样品的检测报告。单颗样品容易做，稳定批量复刻才是制造的核心门槛。结合行业大量仪器厂商的实际反馈，行业普遍面临的痛点主要集中在以下几个方面。

1. 样品合格，批量一致性难以保障

不少供应商可以交付一颗指标优秀的样品：光圈PV、表面粗糙度、膜层透过率全部满足图纸要求。可当订单切换到几十、几百件批量供货之后，产品指标开始出现离散波动。同样的图纸、同样的材料，不同批次元件面形出现偏差，表面质量等级下滑；镀膜批次之间透过、反射指标出现偏移。放到整机系统里，就会出现同型号仪器，成像效果、激光输出表现参差不齐。工程师需要反复调试校准，采购则要面对退货、复检、换货的额外成本。

造成批量不一致的原因有很多：抛光工序工艺参数不稳定、镀膜机腔体状态波动、检测抽样标准宽松、半成品筛选管控不足。很多企业只关注最终成品检测，忽略研磨、抛光、清洗、镀膜全流程的过程管控，最终把风险传递给下游整机厂商。

2. 材料选型与实际工况错配，埋下应用隐患

光学元件的性能，基底材料是一切的基础。不同光学材料，拥有完全不同的光谱透过区间、热膨胀系数、硬度、软化温度、热传导性能。锗、硒化锌、硅、硫化锌、蓝宝石、氟化钙、熔融石英、N‑BK7，每一种材料都有自己的适用边界。现实选型过程中，部分供应商简单按照图纸规格供货，缺少对下游实际工况的考量。

举几个行业内经常遇到的场景：

高功率激光工况，选用热膨胀系数偏高的基底材料，元件工作受热发生形变，直接造成光斑畸变；
红外户外设备，选用硬度较低的氟化物材料，在湿度、粉尘环境下，元件表面容易被侵蚀损伤；
只看标称光谱透过率，忽略材料热学参数，仪器长时间连续工作，元件温升带来整机系统漂移。

参数表上的指标是理想实验室条件下的数据，而仪器设备面对的是真实复杂工况。脱离使用环境谈参数，再好的指标也无法转化成整机的实际稳定性。

3. 膜层标称指标好看，但环境耐受能力不足

增透膜、高反膜、DLC类金刚石膜、高激光损伤镀膜，是光学元件非常核心的组成部分。很多采购拿到规格书，看到透过率、反射率数值很漂亮，但是实际上机之后，膜层容易划伤、受潮劣化、高功率下出现烧膜。

其中一个关键问题：标称膜层指标，不等于实际工况下的耐受能力。同样写着AR增透膜，不同镀膜工艺、膜料体系、镀膜机设备，带来的膜层牢固度、抗潮湿、抗激光损伤阈值会有巨大差距。部分厂商只保障静态光谱指标，没有做环境可靠性验证，交付产品在实验室测试没问题，装到设备经历温度循环、粉尘、水汽之后，膜层快速失效。

4. 检测基准不统一，不同厂商参数无法直接对标

很多技术人员会遇到一个困惑：A供应商和B供应商，同样一份规格书，标称光圈、表面质量、尺寸公差参数一致，但是替换元件上机之后整机效果完全不一样。根源在于各家检测设备、检测环境、检测判定标准并不统一。同样是λ/10光圈，不同干涉仪、不同检测口径、不同的取样位置，测出结果存在差异。如果供需双方前期没有对齐检测条件、验收判定边界，就会出现“供方认为合格，客户现场判定不合格”的矛盾，带来大量沟通、返工、退换货成本。

以上这些痛点，并不是某个别供应商的问题，而是整个光学元器件行业普遍存在的现实挑战。也是在CIOE这样的行业展会上，整机企业重点考察上游制造厂商的核心维度。

二、从样品走向量产，精密光学制造需要完整闭环能力

面对上面这些行业共性难题，想要实现光学元件从研发试样，平稳过渡到小批量、大批量稳定供货，靠单一的抛光或者镀膜工序远远不够，需要一套完整的制造、检测、管控体系作为支撑。这也是亚斯光学多年来建设产线的核心方向。

四川亚斯光学有限公司，专注红外光学元件、激光镜片、高精度大口径光学元件研发、生产与技术服务。公司配置260余台加工设备，65台专业检测设备，完整覆盖切割、铣磨、环抛、球面抛光、定心磨边、超声波清洗、镀膜、全参数检测整套生产链路，全流程内部完成，减少外协环节带来的品质与周期风险。

在材料储备层面，我们可加工硅、锗、硒化锌、硫化锌、氟化钙、氟化钡、氟化镁、蓝宝石、石英玻璃、N‑BK7、各类晶体与红外特种材料，覆盖红外热成像、高能激光、科研仪器、测量设备等多领域的材料需求。

产品建立两套精度体系：商业级与高精度级，对应不同项目的指标与预算需求。

高精度级产品可实现：尺寸公差±0.01mm，光圈(PV)λ/10，表面质量10‑5，棱镜角度公差2"‑30"；
商业级产品可满足常规工业设备需求，尺寸公差±0.05mm，光圈(PV)0.5λ，表面质量60‑40。

以参数对参数，以材料对材料，以工艺对工艺，是我们对待产品的基本原则。

在生产管控上，我们不只是最终成品做检测，而是把管控前置到每一道工序：

前期需求对齐：接到客户图纸之后，不只简单接收规格，同步确认设备实际工况：工作波长、功率等级、工作温度、湿度环境、验收检测标准。区分实验室样机需求和后续量产需求，提前评估材料、膜层方案可行性，规避后期工况错配风险。
加工全链路管控：从基底毛坯来料检验，研磨、抛光过程抽样检测，每一批次记录工艺参数；利用ZYGO干涉测量仪、尼康精密测角仪、二次元尺寸测量设备，完成面形、角度、尺寸的客观量化检测，留存批次检测数据。
镀膜工艺迭代：自建镀膜车间，支持增透、高反射、滤光、偏振、分光、DLC类金刚石碳膜、高激光损伤镀膜多种膜系。针对高功率激光、潮湿红外工况，匹配对应的膜料与工艺，不只追求光谱指标，兼顾膜层牢固度与环境耐受性能。
兼顾多梯度订单：既承接研发阶段小批量试样订单，也支持大批量稳定量产。产线具备弹性产能，当客户项目从样机定型切换到大货生产，能够延续原有工艺参数，降低工艺变更带来的品质波动。

必须客观说明：没有任何一家制造企业可以做到零缺陷。但一套完整闭环的加工检测链路，能够最大限度降低批量离散性，把风险控制在出厂之前，减少下游整机厂商的调试、返工成本。

CIOE展会的价值就在于此：书面资料、参数表格只能传递一部分信息。来到展位，你可以直观看到实物样品、不同材料的对比样件、干涉检测报告样例，能够更立体地评估一家上游制造企业的真实能力。